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泰勒霍普森白光干涉儀CCI MP 無(wú)論哪種零件、無(wú)論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬(wàn)像素高性能攝像頭，可對(duì)非常粗糙到非常光滑的所有表面進(jìn)行細(xì)致全面的分析。功能豐富–可隨時(shí)用于生產(chǎn)運(yùn)營(yíng)或研究項(xiàng)目時(shí)刻與研發(fā)人員和科學(xué)家的專(zhuān)業(yè)技術(shù)同步發(fā)展

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Taylor Hobson Surtronic DUO 精密金屬加工市場(chǎng)和涉及高容差工程產(chǎn)品制造商的其他行業(yè)計(jì)量系統(tǒng)制造商。 系統(tǒng)包括廣泛的圓度和幾何測(cè)量?jī)x器，用于測(cè)量圓度，直線度，平行度，圓柱度，同心度和方形度。 表面處理，表格和輪廓分析儀，三維表面紋理分析和便攜式粗糙度測(cè)試儀，用于測(cè)量多個(gè)表面紋理參數(shù)。

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