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PGI Freeform泰勒霍普森輪廓儀測量輪廓原理 泰勒?霍普森 的 PGI Freeform（相位光柵干涉）是一款多功能、高分辨率的三維自由曲面輪廓測量儀，用于高精度的自由曲面光學(xué)測量。它可以對自由曲面光學(xué)器件進(jìn)行表面粗糙度和形狀分析。Form Talysurf PGI Freeform自由曲面測量系統(tǒng)可以測量環(huán)面、雙錐面、合成非球面、橢球面、NURBS樣條曲面、非球面柱面 、點(diǎn)云以及Zern

Talysurf CCI Lite全自動光學(xué)3D形貌測量儀 The Talysurf CCI Lite 是一臺良好的光學(xué)干涉 儀，它采用了創(chuàng)新的，**的相關(guān)相干算法， 去尋找通過光學(xué)掃描得到的干涉圖象中的一致 點(diǎn)與相位The Talysurf CCI Lite 對于高精度的3D測量 而言是無價(jià)的，通過采用不同的物鏡頭，可 以檢測不同的表面，全自動的工作臺能適應(yīng) 高水平的靈活應(yīng)用。

PGI Dimension光學(xué)三維形貌測量儀/輪廓儀 PGI Dimension把高精度、多功能測量與全自動控制完美地結(jié)合在一起.光學(xué)三維的PGI提供了必要的靈活性，擁有測量近乎垂直角度的能力 ，幾乎不受任何非球面設(shè)計(jì)的限制，從而可以測量跨越不業(yè)種類繁多的光學(xué)元件。

Talysurf CCI三維形貌儀非接觸輪廓儀 Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測量表面形貌、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲器件，半導(dǎo)體器件，光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域。

泰勒霍普森形狀（輪廓）和表面粗糙度測量儀 強(qiáng)大的測量能力：表面粗糙度、輪廓和 3D 測量： » 表面細(xì)節(jié) - 高分辨率傳感器和低噪音軸能夠?qū)崿F(xiàn)粗糙度和波紋度測量。 » 輪廓 - du家**權(quán)的校準(zhǔn)技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)半徑、角度、高度、長度、距離等準(zhǔn)確測量。 » 3D - 使用可選的自動 Y 移動臺和 Talymap 軟件 , 能夠輕松的將傳統(tǒng)的2D測量轉(zhuǎn)換為3D 測量工具。